对于电子设备制造企业，买到翻新器件是一件令人恼火、纠结、无奈的事情。后果难料却又束手无策，防不胜防。经过本人研究、与器件特性资深研究人士交流、经器件翻新业内资深人士言传身教等等手段，总结四法传授鉴别翻新器件。
1.光学检测
工具是放大镜，可以选用10-20倍光学放大镜，或用高倍电子显微镜（光学放大*电子放大）。
将器件的背面，有焊锡的一面，也是与PCB板相接的一面，放置于放大镜下，观察其表面是否有有机焊剂挥发物，现象就是脏乎乎的，跟吃饭时溅到衣服上的油点类似，总之就是没那么平整干净。而且多个器件的脏污图象对比，脏点的位置不一致。
2.测管脚电容
工具为LCR电桥，很便宜的。
两块互不连通的金属，之间填充有绝缘介质，就构成了一个电容。我们在电路中常说的分布电容就是这个形成机理。
现在的器件里，半导体的特性，都会产生分布电容，但是随着时间的推移、随着器件日久年深的工作，两金属间的绝缘特性会因为电压的持续加压或环境影响而导致变差，从而影响到分布电容的大小。据此容值判定器件的状态很有参考价值。
一个批次里，抽取多个器件，随意随机抽取2个管脚，测试其之间的电容特性，将抽取的多个器件相同二管脚的电容测量结果进行对比，不同器件之间±1nF的偏差波动可以理解，差得多了就要小心了。如果一个批次里测出的结果很离散，都在±7～8nF甚至更多之间离散分布，那就肯定是不对劲了。
3.做分布曲线
工具为万用表或电桥。
方法是从一批供货器件里，随机抽取几十个，越多越好啦，一般最少不要少于20个，然后用万用表随机测试任二管脚之间的阻抗，或者用电桥测任二管脚之间的电容，总之选个好测的参数，将多个器件的该参数做成分布图（如下图1）。分布特性如曲线①特征的为新器件，如曲线②特征的则重点怀疑为翻新器件。此为定性测量。一般新器件的参数一致性会非常好。如果分布曲线里出现两个如曲线①特征的波峰，则可能是两个批次的器件，两个批次的时间差距较大。
图1
4.IV曲线
工具：IV曲线测试仪，电路板及元器件故障检测分析仪（T40-II）
方法是从一批供货器件里，随机抽取一些，数量几个到几十个均可，如果有确定的正品新器件做参照物的话，抽样数量也可以很少（抽测样品1-2个都是可以的）。将怀疑器件的IV曲线与正品样品的曲线做对比，重合的就是新器件，不重合的则可能是旧器件翻新来的。
如果没有对比正品样品，就拿多个器件来做曲线对比，同一型号器件的同一管脚的曲线重合度很高，则说明批次一致性很好，则是正品新器件，反之，则是翻新器件。
以上方法皆来自于江湖，且皆为定性测试，很难定量，但其参考价值和实用性不必怀疑。别问我为什么说这些，到底有什么企图心，我叫雷锋，职业是医生，我的患者对象是故障器件和电路板。
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